Muchas personas luchan por entender la diferencia entre la multiplexación por división de longitud de onda y los divisores ópticos.

Primero, necesitamos entender la composición de una fuente de luz. Generalmente, las fuentes de luz tienen un cierto ancho de banda, lo que significa que contienen múltiples componentes de longitud de onda.
Lo que comúnmente nos referimos como "luz láser" teóricamente debería contener solo una longitud de onda única, también conocida como luz monocromática. Sin embargo, lograr una luz verdaderamente monocromática es prácticamente imposible; los láseres siempre tienen un cierto ancho de línea y contienen múltiples componentes de longitud de onda.

En las comunicaciones, necesitamos diferentes longitudes de onda de luz para transportar información diferente. Durante la transmisión de la señal, las longitudes de onda necesitan ser combinadas (multiplexadas) para facilitar la transmisión sobre un solo canal óptico. Durante la demodulación de la señal, las diferentes longitudes de onda de la luz necesitan ser separadas (demultiplexadas). Esta es la función de un multiplexor por división de longitud de onda (WDM).

Entonces, simplemente: un WDM es un dispositivo que combina (multiplexa) o separa (demultiplexa) luz de múltiples longitudes de onda, como se muestra en la Figura 1. Un divisor (PLC), sin embargo, divide la luz que contiene múltiples longitudes de onda en diferentes canales de acuerdo con una relación de potencia óptica específica. La luz dividida en cada canal sigue siendo luz de banda ancha que contiene todas las longitudes de onda, como se muestra en la Figura 2.

 

Figura 1: WDM

Figura 2: PLC

¿Cómo probamos estos dos tipos de componentes? Por ejemplo:

1. ¿Cómo probar el espectro óptico de cada canal de un WDM?

2. ¿Cómo probar la diferencia de retardo entre las distintas ramas de un PLC?

3. ¿Cómo probar la pérdida distribuida, es decir, la pérdida en varios puntos dentro de un componente óptico?

Para las pruebas anteriores, podemos usar un analizador de componentes ópticos basado en los principios OFDR (reflectometría óptica de dominio de frecuencia) para pruebas de alta precisión. Puede lograr una resolución espacial de hasta un nivel submilimétrico y una resolución de retardo óptico de hasta un nivel subpicosegundo.