Viele Menschen haben Schwierigkeiten, den Unterschied zwischen Wellenlängen-Divisions-Multiplexing und optischen Splittern zu verstehen.
Zuerst müssen wir die Zusammensetzung einer Lichtquelle verstehen. Im Allgemeinen haben Lichtquellen eine bestimmte Bandbreite, was bedeutet, dass sie mehrere Wellenlängen komponenten enthalten.
Was wir üblicher weise als "Laserlicht" bezeichnen, sollte theoretisch nur eine einzige Wellenlänge enthalten, die auch als monochroma tisches Licht bekannt ist. Es ist jedoch praktisch unmöglich, wirklich monochroma tisches Licht zu erzielen. Laser haben immer eine bestimmte Linienbreite und enthalten mehrere Wellenlängen komponenten.
In der Kommunikation benötigen wir unterschied liche Wellenlängen des Lichts, um unterschied liche Informationen zu übertragen. Während der Signal übertragung müssen Wellenlängen kombiniert (gemultiplext) werden, um die Übertragung über einen einzelnen optischen Kanal zu erleichtern. Während der Signal demodulation müssen die verschiedenen Wellenlängen des Lichts getrennt (demultiplext) werden. Dies ist die Funktion eines Wellenlängen-Divisions-Multiplexers (WDM).
Einfach ausgedrückt: Ein WDM ist ein Gerät, das Licht mit mehreren Wellenlängen kombiniert (multiplexe) oder trennt (demultiplexe), wie in Abbildung 1 gezeigt. Ein Splitter (PLC) teilt jedoch Licht mit mehreren Wellenlängen in verschiedene Kanäle nach a spezifisches optisches Leistungs verhältnis. Das in jeden Kanal aufgespaltene Licht bleibt breitbandiges Licht, das alle Wellenlängen enthält, wie in Abbildung 2 gezeigt.

Abbildung 1: WDM

Abbildung 2: PLC
Wie testen wir diese beiden Arten von Komponenten? Zum Beispiel:
Wie testet man das optische Spektrum jedes Kanals eines WDM?
Wie kann man den Verzögerung unterschied zwischen den verschiedenen Zweigen einer SPS testen?
Wie testet man den verteilten Verlust, d. H. Den Verlust an verschiedenen Punkten innerhalb einer optischen Komponente?
Für die obigen Tests können wir einen optischen Komponenten analysator verwenden, der auf den OFDR-Prinzipien (Optical Frequency Domain Reflect ometry) für hochpräzise Tests basiert. Es kann eine räumliche Auflösung von bis zu einem Sub millimeter und eine optische Verzögerung auflösung von bis zu einer Sub piko sekunde erreichen.